[发明专利]一种多芯片整合封装方法有效

专利信息
申请号: 201710168631.8 申请日: 2017-03-21
公开(公告)号: CN107424937B 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 彭勇;李宏图;谢兵;赵从寿;张友位;王明辉 申请(专利权)人: 池州华宇电子科技有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56
代理公司: 苏州市指南针专利代理事务所(特殊普通合伙) 32268 代理人: 金香云
地址: 247099 安徽省池州*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种多芯片整合封装方法,该方法包括:芯片布置、装片固化、布线、塑封、电镀、切筋成型、包装共计7个工艺步骤,该方法能将不同功能芯片进行组合并封装于单颗芯片内,短时间最大效果满足不同市场客户需求,缩减了设计环节,增加了单颗芯片集成化能力,且缩短生产周期,降低设计成本费用。
搜索关键词: 一种 芯片 整合 封装 方法
【主权项】:
1.一种多芯片整合封装方法,其特征在于该方法包括以下步骤:1)芯片布置:根据多块功能芯片按功能及尺寸,确定芯片布置方式,所述的芯片布置方式为水平方向水平布置、竖直方向堆叠布置中的一种或多种组合;2)装片固化:根据步骤1)选定的芯片布置方式,将各功能芯片依次进行装片,直到所有功能芯片装完后送入烘箱内进行烘烤固化,所述烘箱烘干温度为173℃‑175℃,烘干时间为2.5h;3)布线:将步骤2)装片固化后的功能芯片放置于键合加热平台上端,对功能芯片进行自动植球,植球后使用劈刀进行反向切球,将所植的点焊球顶面做出一个反向切面平台,使用键合丝将该反向切面平台依次互联,将各功能芯片导通,当连接两反向切面平台的键合丝长度大于2000微米而小于3000微米时,在键合丝的中心处设置多折点结构;当连接两反向切面平台的键合丝长度大于3000微米而小于6000微米时,在键合丝的1/3处、2/3处设置多折点结构,用于避免漂移及塌线,所述的键合丝材质为纯铜,直径为20‑25微米;4)塑封:将步骤3)完成布线的功能芯片放置于模具内,使用塑封料进行塑封制得半成品,并在180℃‑182℃条件下保持90s,以消除半成品内部应力;5)电镀:将步骤4)制得的半成品引脚进行电镀纯锡;6)切筋成型:使用剪切机将经步骤5)电镀后的半成品按规定尺寸切开制得成品;7)包装:使用自动测试机对步骤6)制得的成品进行电性检测后进行自动包装即可。
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