[发明专利]非线性光学薄膜In2Te3的吸收调控方法及其在光限幅领域的应用在审

专利信息
申请号: 201710169564.1 申请日: 2017-03-21
公开(公告)号: CN106896616A 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 王俊;李晶 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G02F1/355 分类号: G02F1/355;C23C14/35;C23C14/06;C23C14/58
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司31200 代理人: 陆飞,王洁平
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种非线性光学薄膜In2Te3的吸收调控方法及其在光限幅领域的应用。本发明首先通过磁控溅射镀膜系统固定溅射功率,制备出不同厚度的In2Te3薄膜;接着对薄膜进行结构分析,再通过飞秒激光开孔Z扫描法测量不同厚度的In2Te3薄膜的非线性吸收响应性能,通过理论拟合获得In2Te3薄膜的非线性吸收临界厚度;观察小于和大于非线性吸收临界厚度的In2Te3薄膜的饱和吸收和反饱和吸收变化,总结出薄膜厚度和非线性吸收特性变化的规律,进而通过调整薄膜厚度调控非线性吸收的强度和类型。本发明的方法简单,可控性好,能通过调控薄膜厚度设计并制备出期望的非线性吸收效果,并利用该特性设计出光限幅器件。
搜索关键词: 非线性 光学薄膜 in2te3 吸收 调控 方法 及其 限幅 领域 应用
【主权项】:
一种非线性光学薄膜In2Te3的吸收调控方法,其特征在于,具体步骤如下:(1)首先以In2Te3为靶材,采用射频磁控溅射的方法,通过固定射频功率改变溅射时间制备得到样品,再将样品在氮气氛围下退火,得到不同厚度的In2Te3In2Te3薄膜;接着通过飞秒激光开孔Z扫描法测量不同厚度的In2Te3薄膜的非线性吸收响应强度,通过对非线性吸收强度和薄膜厚度的线性拟合,获得 In2Te3薄膜的非线性吸收临界厚度;(2)观察小于和大于非线性吸收临界厚度的In2Te3薄膜的饱和吸收和反饱和吸收变化,总结出薄膜厚度和非线性吸收特性变化的规律;(3)根据薄膜厚度和非线性吸收特性的规律,通过调整薄膜厚度调控非线性吸收的强度和类型。
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