[发明专利]适用于毫米波分频器的在片测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 201710172041.2 | 申请日： | 2017-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN106990347A | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 陆海燕;程伟;张敏 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京君陶专利商标代理有限公司32215 | 代理人： | 沈根水 |
| 地址： | 210016 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明是一种适用于毫米波分频器的在片测试系统，其结构包括处理器、探针台、信号源、扩频模块、频谱仪、电源、直流探卡、左探针系统、右探针系统；其测试方法，包括如下步骤1）测试分频器芯片输出端到频谱仪连接过程中的链路损耗；2）判断测试链路是否连接正常；3）连接待测分频器芯片，控制电源加电使分频器正常工作；4）采集数据；5）处理器计算出待测分频器芯片的工作频率范围以及输出功率；6）判定是否需要进行其它分频器芯片的测试。优点1）实现了毫米波分频电路工作频率范围、输出功率的精确测试；2）实现了毫米波分频器的在片自动测试，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 毫米波 分频器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
适用于毫米波分频器的在片测试系统，其特征是包括处理器、探针台、信号源、扩频模块、频谱仪、电源、直流探卡、左探针系统、右探针系统；其中，处理器的第一信号输出/输入端与探针台的信号输入/输出端对应相接，处理器的第二信号输出/输入端与信号源的信号输入/输出端对应相接，处理器的第三信号输入端与频谱仪的信号输出端对应相接，处理器的第四信号输入/输出与电源的信号输入输出端相连，同时电源的另外一个电流输出端连接直流探卡的电流输入端，信号源的信号输出端连接扩频模块输入端，扩频模块输出端连接左探针系统输入端，右探针系统输出端与频谱仪的输入端相接，左、右探针系统间连接待测件，待测件的另一个信号输入端接直流探卡的信号输出端。
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