[发明专利]鳍状场效晶体管结构及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201710173984.7 申请日: 2017-03-22
公开(公告)号: CN107887439B 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 黄彦钧;彭治棠;彭辞修;黄泰钧;许光源;包天一 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L29/06
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 冯志云;王芝艳
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 用于切割基板上的鳍状场效晶体管结构的鳍状片段的切割最后的工艺,采用两步工艺。在形成鳍状物后,沉积氧化物材料于鳍状场效晶体管结构的沟槽中。氧化物材料可为浅沟槽隔离氧化物或低应力的虚置填隙材料。通过蚀刻品可移除鳍状片段,并保留凹陷状(如u型或v型)的硅部分于鳍状物底部。当氧化物材料为浅沟槽隔离氧化物时,移除鳍状物后形成的孔洞可填有替换的浅沟槽隔离氧化物。当氧化物材料为虚置的填隙材料时,可移除虚置的填隙材料以置换成浅沟槽隔离氧化物;或者将虚置的填隙材料转变成浅沟槽隔离氧化物,并在上述转变步骤之前或之后填入替换的浅沟槽隔离氧化物。
搜索关键词: 鳍状场效 晶体管 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
一种鳍状场效晶体管结构的形成方法,包含:选择性蚀刻一基板以形成多个鳍状物与多个沟槽;将一第一氧化物填入所述多个沟槽;蚀刻所述多个鳍状物的一第一鳍状物以移除至少部分的该第一鳍状物,以形成一孔洞;将一第二氧化物填入该孔洞,且该第二氧化物可与该第一氧化物相同或不同。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710173984.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top