[发明专利]电子存储调试设备在审
| 申请号： | 201710174588.6 | 申请日： | 2017-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN107068188A | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | 李阳 | 申请（专利权）人： | 合肥仁德电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/22 | 分类号： | G11C16/22;G11C16/34 |
| 代理公司： | 合肥道正企智知识产权代理有限公司34130 | 代理人： | 张浩 |
| 地址： | 230000 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种闪存，其特征在于，包括存储阵列和电存储单元，所述电存储单元依次连接于所述存储阵列对应的各条排线上，本发明的有益效果是本发明解决的问题是有效地避免对不涉及编程操作的其他存储单元的干扰。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 存储 调试 设备 | ||
【主权项】：
一种闪存，其特征在于，包括存储阵列和电存储单元，所述电存储单元依次连接于所述存储阵列对应的各条排线上，所述电存储单元上设置有稳压装置、电压偏置单元，以及连接于各条位线的晶体管，所述调整晶体管包括第一端、第二端以及控制端，其第一端连接所述稳压单元，第二端连接对应的位线，控制端连接所述电压偏置单元；所述闪存包括电源，所述电流源提供的电流为1 ～ 8μA，所述电压偏置单元包括PMOS 管、NMOS 管、比较器和分压器，所述NMOS 管的源极连接于所述分压器的输入端，栅极与漏极相连并连接至所述PMOS 管。
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