[发明专利]粒子成分分析装置及其使用方法以及粒子复合分析装置在审

专利信息
申请号: 201710176345.6 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN107271225A 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 长谷川祥树;武田直希;小泉和裕;浅野贵正 申请(专利权)人: 富士电机株式会社
主分类号: G01N1/22 分类号: G01N1/22;G01N1/24;G01N15/02;G01N15/14;G05D23/24
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 代理人: 孙昌浩,李盛泉
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供粒子成分分析装置、粒子复合分析装置及粒子成分分析装置的使用方法。通过对捕获体照射能量线,使捕获体的温度上升。由此,粒子从捕获体脱离。在对从捕获体脱离的粒子进行分析时,在不控制捕获体的温度的情况下,捕获体的温度发生变化而难以将测定条件保持为恒定。粒子成分分析装置具有捕获体,其捕获成为测定对象的气溶胶中的粒子;能量线照射部,其向被捕获体捕获的粒子照射能量线;分析器,其基于通过能量线的照射而从捕获体脱离的粒子的脱离成分对粒子的成分和每种成分的量中的至少一项进行分析,捕获体具有温度测定部,粒子成分分析装置还具备控制部,控制部基于通过温度测定部测得的捕获体的温度对能量线照射部的输出进行控制。
搜索关键词: 粒子 成分 分析 装置 及其 使用方法 以及 复合
【主权项】:
一种粒子成分分析装置,其特征在于,具备:捕获体,其捕获成为测定对象的气溶胶中的粒子;能量线照射部,其向被所述捕获体捕获的所述粒子照射能量线;以及分析器,其基于通过所述能量线的照射而从所述捕获体脱离的所述粒子的脱离成分对所述粒子的成分和每种成分的量中的至少一项进行分析;所述捕获体具有温度测定部,所述粒子成分分析装置还具备控制部,所述控制部基于通过所述温度测定部测得的所述捕获体的温度,对所述能量线照射部的输出进行控制。
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