[发明专利]用于力检测器的基于拐折的校准方法有效
| 申请号： | 201710181808.8 | 申请日： | 2017-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN107239161B | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 王营;I.波利什楚克 | 申请（专利权）人： | 辛纳普蒂克斯公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张懿;郑冀之 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在本文中描述的实施例包括一种用于校准电容性力传感器的方法。所述方法包括获取电容性传感器中的多个传感器电极处的多个电容变化，其中所述多个电容变化表示力。所述方法还包括识别所述多个电容变化中的多个拐点，其中所述多个拐点中的每一个都为一个建模区定界。所述方法包括为每个建模区确定一个建模方程，其中所述建模方程被用于力感测的校准。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测器 基于 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种用于校准电容性力传感器的方法，其包括：获取电容性传感器中的多个传感器电极处的多个电容变化，其中所述多个电容变化表示力；识别所述多个电容变化中的多个拐点，其中所述多个拐点中的每一个都为一个建模区定界；为每个建模区确定一个建模方程，其中所述建模方程被用于力感测的校准。
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