[发明专利]一种降低开路器校准件边缘电容的方法及开路器校准件

摘要

本发明涉及测试仪器领域，具体公开了一种降低开路器校准件边缘电容的方法,将开路器校准件的电容设置为同轴渐变电容，即可有效降低开路器校准件结束端的边缘电容；还公开了一种开路器校准件，开路器校准件包括外导体、内导体；外导体为空心壳体，其内部具有锥形腔室，内导体为实心锥形芯体；内导体同轴安装在外导体的锥形腔室内，外导体和内导体的开始端的端面为大直径端，且处在同一端面上，沿开路器校准件轴向，任意一个径向截面上外导体的内径与内导体外径的比值为定值。本发明将外导体与内导体设计成为锥形结构，有效降低了两导体结束端的边缘电容，减小了矢量网络分析仪的测量误差。

主权项

一种降低开路器校准件边缘电容的方法，其特征在于，将所述开路器校准件的电容设置为同轴渐变电容，其中：将所述开路器校准件的轴线开始端的内导体与外导体尺寸分别设置为与矢量网络分析仪端口相配合的尺寸，将所述开路器校准件轴线结束端的内导体和外导体尺寸设置为小于轴线开始端的内导体与外导体的尺寸；所述轴线开始端至所述轴线结束端的距离为l；z为轴线上位于轴线开始端至轴线结束端之间任意点与轴线开始端之间的距离，且z≤l；所述内导体直径用d(z)表示，所述外导体直径用D(z)表示，所述同轴渐变电容的阻抗其中μ为磁导率，ε为介电常数；所述外导体直径D(z)与所述内导体直径d(z)的比值为定值。