[发明专利]一种用于晶体测定的可调夹持工具

摘要

本发明涉及一种用于晶体测定的可调夹持工具，包括底座、设于底座上的支柱、安装在支柱上部的L型支架、设于L型支架末端的样品盘，样品盘与L型支架旋转连接，样品盘设有多个用于夹持待测晶体的紧固件。本发明结构简单，加工便利，可以适用于任何晶体定向仪或类似装置，对定向仪本身无需做任何改动，效果突出；可调节性好，根据实际测量样品大小，安排底座与定向仪吸附金属座之间距离，可根据样品大小调节高度，转动任意角度。

主权项

1.一种用于晶体测定的可调夹持工具，其特征在于，包括底座(1)、设于底座(1)上的支柱(2)、安装在支柱(2)上部的L型支架(4)、设于L型支架(4)末端的样品盘(6)，所述的样品盘(6)与L型支架(4)旋转连接，所述的样品盘(6)设有多个用于夹持待测晶体的紧固件(8)，所述的样品盘(6)包括盘本体以及设于盘本体上的圆环壁，所述的紧固件(8)分布于圆环壁上，所述的样品盘(6)的圆环壁的外壁面设有360度的刻槽(9)，所述的L型支架(4)上部设有刻度指针(5)，所述的样品盘(6)的中心设有与L型支架(4)连接的旋转套筒(10)。