[发明专利]基于微结构阵列的粒子径迹探测装置在审

专利信息
申请号: 201710193431.8 申请日: 2017-03-28
公开(公告)号: CN106908831A 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 庄凯;曾凡剑;赵力;王晓明;秦秀波;魏存峰;魏龙;李得天;薛玉雄;安恒;杨生胜;李毅军 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所;兰州空间技术物理研究所
主分类号: G01T5/08 分类号: G01T5/08
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司11438 代理人: 王辉,阚梓瑄
地址: 100049 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供了一种基于微结构阵列的粒子径迹探测装置,该装置包括闪烁体,用于基于粒子在所述闪烁体中运动产生闪烁光;微结构阵列,用于调制所述闪烁光,并将调制后的所述闪烁光导向一光探测元件;所述光探测元件,用于接收调制后的所述闪烁光;粒子径迹探测单元,用于基于所述光探测元件接收到的所述闪烁光计算出产生所述闪烁光的位置,并根据产生所述闪烁光的位置计算出粒子径迹。本公开实现了粒子径迹的识别,降低了加工难度,进而也降低了加工成本。
搜索关键词: 基于 微结构 阵列 粒子 径迹 探测 装置
【主权项】:
一种基于微结构阵列的粒子径迹探测装置,其特征在于,包括:闪烁体,用于基于粒子在所述闪烁体中运动产生闪烁光;微结构阵列,用于调制所述闪烁光,并将调制后的所述闪烁光导向一光探测元件;所述光探测元件,用于接收调制后的所述闪烁光;粒子径迹探测单元,用于基于所述光探测元件接收到的所述闪烁光计算出产生所述闪烁光的位置,并根据产生所述闪烁光的位置计算出粒子径迹。
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