[发明专利]基于光敏电阻的自动曝光检测装置及方法、平板探测器有效
| 申请号： | 201710194883.8 | 申请日： | 2017-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN107037475B | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 高鹏飞;林言成;黄翌敏;袁冉;马放 | 申请（专利权）人： | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/26 | 分类号： | G01T1/26 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 姚艳 |
| 地址： | 201201 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于光敏电阻的自动曝光检测装置及方法、平板探测器，其中，所述基于光敏电阻的自动曝光检测装置应用于平板探测器中，所述平板探测器至少包括TFT层，其特征在于，所述基于光敏电阻的自动曝光检测装置至少包括：光敏电阻，其设于所述TFT层的下表面；曝光检测电路，连接于所述光敏电阻，用于实时监测所述光敏电阻的阻值，并根据所述光敏电阻的阻值变化情况输出相应的曝光控制信号，从而实现X射线自动曝光检测功能。本发明通过在平板探测器的TFT层下方设置一层光敏电阻薄膜，并通过实时监测光敏电阻薄膜的阻值大小来实现X射线自动曝光检测功能，实现了整个TFT层出光的全方位检测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光敏 电阻 自动 曝光 检测 装置 方法 平板 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种基于光敏电阻的自动曝光检测装置，应用于平板探测器中，所述平板探测器至少包括TFT层，其特征在于，所述基于光敏电阻的自动曝光检测装置至少包括：光敏电阻，其设于所述TFT层的下表面，且所述光敏电阻的面积大小等于所述TFT层的面积大小；曝光检测电路，连接于所述光敏电阻，用于实时监测所述光敏电阻的阻值，并根据所述光敏电阻的阻值变化情况输出相应的曝光控制信号，从而实现X射线自动曝光检测功能。
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