[发明专利]鳍式场效应管及其形成方法有效
申请号: | 201710198362.X | 申请日: | 2017-03-29 |
公开(公告)号: | CN108666367B | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 周飞 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 吴敏 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种鳍式场效应管及其形成方法,所述形成方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上具有多个分立的鳍部;在所述鳍部露出的半导体衬底上形成第一隔离层,所述第一隔离层覆盖所述鳍部的部分侧壁,且所述第一隔离层顶部低于所述鳍部顶部;在所述第一隔离层露出的鳍部侧壁上形成保护层;在所述鳍部之间形成第二隔离层,所述第二隔离层覆盖所述第一隔离层的顶部以及所述保护层的侧壁;在形成所述第二隔离层之后,去除位于所述第二隔离层之间的部分厚度或全部厚度的鳍部,形成开口;对所述开口进行清洗处理;对所述开口进行清洗处理之后,形成填充满所述开口的沟道层。本发明形成的鳍式场效应管的电学性能得到提高。 | ||
搜索关键词: | 场效应 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上具有多个分立的鳍部;在所述鳍部露出的半导体衬底上形成第一隔离层,所述第一隔离层覆盖所述鳍部的部分侧壁,且所述第一隔离层顶部低于所述鳍部顶部;在所述第一隔离层露出的鳍部侧壁上形成保护层;在所述鳍部之间形成第二隔离层,所述第二隔离层覆盖所述第一隔离层的顶部以及所述保护层的侧壁;在形成所述第二隔离层之后,去除位于所述第二隔离层之间的部分厚度或全部厚度的鳍部,形成开口,且所述保护层位于所述开口侧壁上;对所述开口进行清洗处理;对所述开口进行清洗处理之后,形成填充满所述开口的沟道层,所述沟道层的材料与鳍部的材料不同;在形成所述沟道层之后,去除部分厚度的第二隔离层,使得剩余第二隔离层顶部高于所述沟道层底部;去除部分厚度的第二隔离层之后,去除剩余第二隔离层露出的保护层。
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