[发明专利]外形测量方法、外形测量设备及形变检测设备在审
| 申请号： | 201710201618.8 | 申请日： | 2017-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN108613636A | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 李岳龙;林伯聪 | 申请（专利权）人： | 由田新技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾新北市中*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种外形测量方法，用以测量一待测物的外型轮廓，包括以下步骤。提供一光源、一透光投影膜及一图像获取装置，其中透光投影膜位于光源与图像获取装置之间。置放待测物在光源与透光投影膜之间，并通过光源提供一光束至透光投影膜，以在透光投影膜上形成待测物的一待测物投影。通过图像获取装置获取待测物投影的图像，以获得待测物投影的一投影尺寸。依据待测物投影的投影尺寸计算出待测物的一测量尺寸。此外，一种外形测量设备及一种形变检测设备也被提及。 | ||
| 搜索关键词： | 待测物 投影 投影膜 透光 外形测量 图像获取装置 光源 形变检测 测量 尺寸计算 光源提供 外型轮廓 置放 图像 | ||
【主权项】：
1.一种外形测量方法，用以测量一待测物的外型轮廓，其特征在于，包括：提供一光源、一透光投影膜及一图像获取装置，其中所述透光投影膜位于所述光源与所述图像获取装置之间；置放所述待测物在所述光源与所述透光投影膜之间，并通过所述光源提供一光束至所述透光投影膜，以在所述透光投影膜上形成所述待侧物品的一待测物投影；通过所述图像获取装置获取所述待测物投影的图像，以获得所述待测物投影的一投影尺寸；以及依据所述待测物投影的所述投影尺寸计算出所述待测物的一测量尺寸。
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