[发明专利]一种基于多孔介质模型的细胞物理状态的表征方法

摘要

本发明提供一种基于多孔介质模型的细胞物理状态的表征方法。为了得到上述表征方法，首先需基于多孔介质模型获取细胞杨氏模量，其中，细胞杨氏模量的获取方法包括：S1.基于待测细胞表面的加载力‑时间曲线，获取待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度；S2.基于待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度，利用赫兹模型计算得到待测细胞的杨氏模量。本发明提供的方法可以有效地解决利用传统方法根据赫兹模型测量杨氏模量以及细胞刚度所存在的不同压入深度与不同加载速率下测量得到的结果差异大的问题，并合理地解释传统方法测量出现差异的原因，且较准确地表征细胞介孔弹性性质以及细胞物理状态。

主权项

1.一种细胞杨氏模量的获取方法，包括：S1.基于待测细胞表面的加载力‑时间曲线，获取待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度；S2.基于待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度，利用赫兹模型计算得到待测细胞的杨氏模量；其中，S1具体为：基于待测细胞表面AFM探针的形变‑时间曲线，利用粘弹性模型得到待测细胞表面的加载力‑时间曲线，获取待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度；在所述形变‑时间曲线的获取中，数据采集步骤包括：退针段、静置段、近针段和松弛段；所述数据采集步骤具体为：S11.根据待测细胞的力曲线，估测得到探针与待测细胞接触点的位置，以所述估测位置为接触点，将探针抬起置于第一高度，记为退针段，采集退针段的时间值和AFM探针Deflection变化值；S12.在所述第一高度将探针静置，记为静置段，采集静置段的时间值和AFM探针Deflection变化值；S13.以第一速度令探针下降第一距离，从而在细胞表面获得第一压入深度，记为近针段，采集近针段的时间值和AFM探针Deflection变化值；S14.保持探针在所述第一压入深度不变，记录探针的松弛行为，记为松弛段，采集松弛段的时间值和AFM探针Deflection变化值。