[发明专利]继电保护装置的寿命检测装置及方法

摘要

本发明涉及继电保护装置的寿命检测装置及方法，所述继电保护装置的寿命检测装置以继电保护装置中影响寿命最大的电解电容作为剩余寿命检测估算的参考，将电解电容的温度、电压波纹以及上电次数作为主要的计算因子，能够准确地计算继电保护装置中电解电容的剩余寿命，从而估算获得继电保护装置的剩余寿命。本发明实施例提供的继电保护装置的寿命检测装置，在估算继电保护装置的剩余寿命时不会对电网运行造成任何影响，不会影响正常供电，同时方便操作人员判断何时更换继电保护装置中的部件。

主权项

1.一种继电保护装置的寿命检测装置，其特征在于，包括：电源监视模块、时间测量模块、数据处理模块和存储模块，其中，所述电源监视模块包括测温模块和电压测量模块，其中，所述测温模块设置在所述继电保护装置中每组电解电容附近，所述电压测量模块与所述继电保护装置的电压输出端相连；所述时间测量模块用于产生时间信息，所述时间信息包括当前时间；所述存储模块用于存储继电保护装置的电气信息和寿命信息，所述电气信息包括所述电解电容的温度以及所述继电保护装置的电压波纹，所述寿命信息包括检测时间以及继电保护装置的剩余寿命；所述数据处理模块包括CPU主控芯片，所述CPU主控芯片分别与所述测温模块的输出端、电压测量模块的输出端、时间测量模块的输出端以及存储模块相连；所述CPU主控芯片用于获取测温模块输出的所述电解电容的温度以及电压测量模块输出的所述继电保护装置的电压波纹，根据继电保护装置的上电次数、所述电解电容的温度以及所述继电保护装置的电压波纹计算所述继电保护装置的剩余寿命，读取所述时间测量模块产生的当前时间，将该当前时间作为检测时间，将所述剩余寿命和所述检测时间写入所述存储模块中；所述CPU主控芯片还用于：在根据继电保护装置的上电次数、所述电解电容的温度以及所述继电保护装置的电压波纹计算所述继电保护装置的剩余寿命时，读取继电保护装置的上电次数，根据上电次数与所述电解电容的充放电时间常数获得上电寿命损耗；利用所述电解电容的温度以及继电保护装置的电压波纹计算所述电解电容的运行寿命损耗；根据所述电解电容的预期寿命与寿命损耗总和的差值确定所述电解电容的剩余寿命，获得所述继电保护装置的剩余寿命，所述预期寿命为所述电解电容在常温下的使用寿命，所述寿命损耗总和等于所述上电寿命损耗与预设第一修正因子的积加上所述运行寿命损耗与预设第二修正因子的积。