[发明专利]用于测试物理不可克隆功能的设备和方法有效
| 申请号： | 201710223312.2 | 申请日： | 2017-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN107276761B | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | S·吉耶;J-L·当热;P·阮 | 申请（专利权）人： | 智能IC卡公司 |
| 主分类号： | H04L9/32 | 分类号： | H04L9/32;G06F21/57 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘瑜;王英 |
| 地址： | 法国塞*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供用于对被实现在设备中的物理不可克隆功能(PUF)进行测试的方法，包括：将激励的至少一个比特应用到PUF实例；确定PUF元件中的至少一些PUF元件的标识符(300)，每个PUF元件的标识符是根据响应于所述激励的至少一个比特而由所述PUF元件所输出的响应来确定的；将统计随机性测试(304)应用到标识符的群组，所述标识符的群组包括针对所述PUF元件的所确定的标识符中的至少一些，这提供测试指示符；以及基于所述测试指示符来测试所述PUF。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 物理 不可 克隆 功能 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试被实现在设备(12)中的物理不可克隆功能(PUF)的方法，所述PUF(10)被配置为接收至少一个激励并且产生一组响应，每个激励包括一组比特，每个响应包括至少一个比特并且与一个激励相对应，所述PUF包括电路，所述电路包括一组PUF元件(50)，每个PUF元件由与所述激励的至少一个比特相对应的至少一个输入比特来控制，其中，所述方法包括以下步骤：将所述激励的至少一个比特应用到PUF实例；确定所述PUF元件中的至少一些PUF元件的标识符，每个PUF元件的所述标识符是根据响应于所述激励的所述至少一个比特而由所述PUF元件输出的响应来确定的；将统计随机性测试应用到标识符的群组，所述标识符的群组包括针对所述PUF元件确定的标识符中的至少一些标识符，这提供测试指示符；以及基于所述测试指示符来测试所述PUF。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于智能IC卡公司，未经智能IC卡公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710223312.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
