[发明专利]一种过孔的尺寸测量方法及测量设备在审
| 申请号： | 201710224129.4 | 申请日： | 2017-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN106989681A | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 叶巧云 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/08 | 分类号： | G01B11/08 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518006 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种过孔的尺寸测量方法及测量设备，该方法包括获取过孔及其周边区域的图像；在图像中设置一图像抓取框；沿预设方向根据图像的像素的灰阶绘出变化曲线；在变化曲线中设定中间基准点；在变化曲线上以所述中间基准点为起点分别向两侧搜索满足预设条件的波峰；根据所述中间基准点两侧的波峰之间的距离计算过孔沿预设方向的尺寸。通过上述方式，本发明能够找到对应的波峰，准确测量出过孔的直径。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 尺寸 测量方法 测量 设备 | ||
【主权项】：
一种过孔的尺寸测量方法，其特征在于，包括：获取所述过孔及其周边区域的图像；在所述图像中设置一图像抓取框；沿预设方向根据所述图像的像素的灰阶绘出变化曲线；在所述变化曲线中设定中间基准点；在所述变化曲线上以所述中间基准点为起点分别向两侧搜索满足预设条件的波峰；根据所述中间基准点两侧的所述波峰之间的距离计算所述过孔沿所述预设方向的尺寸。
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