[发明专利]电子设备、POS机的跌落损伤应变测试装置及方法

摘要

本发明涉及应变测试领域，尤其涉及一种电子设备、POS机的跌落损伤应变测试装置及方法。其中测试装置包括电子设备和用于模拟电子设备跌落过程的试验机，所述电子设备内设有待测试模块，还包括应变片、数据采集卡和处理器；所述应变片设置在电子设备内且与待测试模块之间设有固定间隔；所述数据采集卡包括采集端和输出端，所述采集端与应变片连接；所述输出端与处理器连接。通过在电子设备内的待测试模块周围设置应变片，当电子设备在不同高度跌落后，应变片会获取待测试模块的应变值处理器将应变值与预设的待测试模块对应的应变损伤标称值对比，可能判断待测试模块是否受到损伤，有效评估电子设备的抗跌落能力。

主权项

一种电子设备的跌落损伤应变测试装置，包括电子设备和用于模拟电子设备跌落过程的试验机，所述电子设备内设有待测试模块，其特征在于，还包括：应变片、数据采集卡和处理器；所述应变片设置在电子设备内且与待测试模块之间设有固定间隔，用于获取待测试模块的应变值；所述数据采集卡包括采集端和输出端，所述采集端与应变片连接，用于模拟电子设备跌落过程时，采集应变片获取到的待测试模块的应变值；所述输出端与处理器连接，所述处理器，用于将输出端发送的待测试模块的应变值与预设的待测试模块对应的应变损伤标称值对比，若所述应变值大于应变损伤标称值，则所述待测试模块损伤风险高；若所述应变值小于应变损伤标称值，则所述待测试模块损伤风险低。