[发明专利]一种检测手机外壳轮廓度缺陷方法有效
申请号: | 201710232538.9 | 申请日: | 2017-04-11 |
公开(公告)号: | CN107064170B | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 金少峰;王晓东;王刚奎 | 申请(专利权)人: | 深圳市深视智能科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;B07C5/342 |
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地址: | 518000 广东省深圳市宝安区前*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种检测手机外壳轮廓度缺陷方法,包括:将被测试的智能手机外壳(5)放置在测试系统结构件(4)的前方中央位置处的测试平台上,所述测试系统结构件(4)的两端分别设置有第一CMOS摄像模组(2)和第二CMOS摄像模组(3),其具体方法包括:步骤1)放置手机外壳到测试平台上,使用蓝色波长405nm的半导体线结构光激光器照射手机结构件,第一和第二CMOS摄像摄像模组分别采集激光线图像,获取上表面3D点云数据,摄像头光轴和激光线光平面夹角选择了45度步骤2)设置传感器采样行数为n个像素,按照深度测量范围确定传感器采样像素行数等。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 手机外壳 轮廓 缺陷 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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