[发明专利]一种检测手机外壳轮廓度缺陷方法有效

专利信息
申请号: 201710232538.9 申请日: 2017-04-11
公开(公告)号: CN107064170B 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 金少峰;王晓东;王刚奎 申请(专利权)人: 深圳市深视智能科技有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;B07C5/342
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市宝安区前*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种检测手机外壳轮廓度缺陷方法,包括:将被测试的智能手机外壳(5)放置在测试系统结构件(4)的前方中央位置处的测试平台上,所述测试系统结构件(4)的两端分别设置有第一CMOS摄像模组(2)和第二CMOS摄像模组(3),其具体方法包括:步骤1)放置手机外壳到测试平台上,使用蓝色波长405nm的半导体线结构光激光器照射手机结构件,第一和第二CMOS摄像摄像模组分别采集激光线图像,获取上表面3D点云数据,摄像头光轴和激光线光平面夹角选择了45度步骤2)设置传感器采样行数为n个像素,按照深度测量范围确定传感器采样像素行数等。
搜索关键词: 一种 检测 手机外壳 轮廓 缺陷 方法
【主权项】:
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