[发明专利]一种误差校正控制系统、β测尘仪消除滤带误差的方法有效
申请号: | 201710235234.8 | 申请日: | 2017-04-12 |
公开(公告)号: | CN107063954B | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 敖小强;许敬之;罗武文 | 申请(专利权)人: | 北京雪迪龙科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 | 代理人: | 武玉琴;冷文燕 |
地址: | 102206 北京市昌*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种误差校正控制系统以及消除滤带质量误差的方法。该系统包括定标模块(11)、空白基准确认模块(12)、校正值计算模块(13)、单位面积集尘量计算模块(14)、颗粒物浓度输出模块(15):定标模块(11)对空白滤带计数值和标准膜片计数值的处理,将定标数据储存;空白基准确认模块(12)确定空白计数基准值及基准点;校正值计算模块(13)将采样前的空白滤带质量计数值与基准点的质量差设为校正值;单位面积集尘量计算模块(14)对采样后的质量增量校正;颗粒物浓度输出模块(15)计算校正后的可吸入颗粒物浓度。本发明的系统和方法在不增加任何外部条件情况下,解决了因滤带质量不均匀造成β吸收式测尘仪输出误差的问题。 | ||
搜索关键词: | 滤带 校正值计算模块 计算模块 空白基准 控制系统 确认模块 输出模块 误差校正 测尘仪 基准点 集尘量 颗粒物 采样 定标 校正 可吸入颗粒物 标准膜片 定标数据 计数基准 输出误差 外部条件 质量误差 质量增量 不均匀 吸收式 质量差 储存 | ||
【主权项】:
1.一种用于β测尘仪的误差校正控制系统,其特征在于,所述系统包括定标模块、空白基准确认模块、校正值计算模块、单位面积集尘量计算模块、颗粒物浓度输出模块;其中,所述定标模块,用于对测量得到的空白滤带计数值和标准膜片计数值进行处理,得到所述空白滤带计数值平均值Nj1以及所述标准膜片计数值平均值Nj2、并求得仪器修正系数K值、所述标准膜片的单位面积质量并储存;所述空白基准确认模块将所述空白滤带计数值平均值Nj1设定为整条滤带的空白计数基准值,将所述空白计数基准值对应的空白质量设定为所述基准点;所述校正值计算模块,将采样前的空白滤带质量mi与所述基准点的质量m差值Δmd设定为校正值,所以滤带任意点质量mi=m±Δmd;当仪器在滤带任意点计数N1结束,上述质量差值可用式Δmd=1/k ln(Nj1/N1)计算;所述单位面积集尘量计算模块,接收采样后的样品滤带计数值N2并调用仪器修正系数以计算质量增量,然后用Δmd进行误差校正,按式Δm={1/k ln(Nj1/N2)}-{±Δmd}求得单位面积集尘量;所述颗粒物浓度输出模块根据所述单位面积集尘量,求得校正后的可吸入颗粒物浓度。
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