[发明专利]一种InAs/AlSb HEMT外延结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710235791.X 申请日: 2017-04-12
公开(公告)号: CN107123668B 公开(公告)日: 2019-12-13
发明(设计)人: 吕红亮;张静;张玉明;张义门;张宁 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/205;H01L29/778;H01L21/335;H01L21/02
代理公司: 61223 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 俞晓明
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种InAs/AlSb HEMT外延结构及其制备方法。本发明公开的一种InAs/AlSb HEMT外延结构,自下而上包括:衬底、缓冲层、AlAs
搜索关键词: 一种 inas alsbhemt 外延 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种InAs/AlSb HEMT外延结构,其特征在于,自下而上包括:衬底(1)、缓冲层(2)、AlAs
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