[发明专利]一种基于表面等离子激元的太赫兹成像精确定位方法在审
申请号: | 201710241155.8 | 申请日: | 2017-04-13 |
公开(公告)号: | CN108732122A | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 顾文华;赖森锋;吴杨慧;朱佳燚 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01N21/3581 | 分类号: | G01N21/3581 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 薛云燕 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于表面等离子激元的太赫兹成像精确定位方法。该方法包括以下步骤:首先,在金属膜上制备周期性结构,该周期性结构能够在太赫兹波段激发表面等离子波;其次,使得待测物体与该周期性结构的相对位置固定;最后,太赫兹时域光谱仪发出的电磁波入射至上述周期性结构,从而在该周期性结构表面激发出表面等离子波,进而得到该周期性结构亚波长尺度的成像图形,根据待测物体与该周期性结构的相对位置,对待测物体进行定位并成像。使用周期性结构制备两个已知间距的点,以这两点间的距离作为成像图像的比例尺,得到太赫兹成像过程中的比例尺。本发明实现了亚波长尺度的太赫兹成像精准定位,并通过制备比例尺,辅助测量成像目标的具体尺寸。 | ||
搜索关键词: | 周期性结构 太赫兹成像 比例尺 制备 表面等离子激元 表面等离子波 精确定位方法 待测物体 亚波长 太赫兹时域光谱仪 尺度 相对位置固定 太赫兹波段 表面激发 成像目标 成像图像 成像图形 辅助测量 精准定位 电磁波 金属膜 入射 成像 激发 | ||
【主权项】:
1.一种基于表面等离子激元的太赫兹成像精确定位方法,其特征在于,包括以下步骤:首先,在金属膜上制备周期性结构,该周期性结构能够在太赫兹波段激发表面等离子波;其次,使得待测物体与该周期性结构的相对位置固定;最后,太赫兹时域光谱仪发出的电磁波入射至上述周期性结构,从而在该周期性结构表面激发出表面等离子波,进而得到该周期性结构亚波长尺度的成像图形,根据待测物体与该周期性结构的相对位置,对待测物体进行定位并成像。
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