[发明专利]TTI介质层析反演成像方法及计算机可读存储介质有效
申请号: | 201710250240.0 | 申请日: | 2017-04-17 |
公开(公告)号: | CN108732623B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 张林;张兵 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院 |
主分类号: | G01V1/36 | 分类号: | G01V1/36 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;廉莉莉 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明公开了一种TTI介质层析反演成像方法及计算机可读存储介质,包括:输入数据;基于TTI介质的各向异性参数(v |
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搜索关键词: | tti 介质 层析 反演 成像 方法 计算机 可读 存储 | ||
【主权项】:
1.一种TTI介质层析反演成像方法,包括:输入数据;基于TTI介质的各向异性参数(vp0,ε,δ,θ0)其中的各向异性参数ε和δ进行反演,获取精确的参数ε和δ的结果;基于所述精确的参数ε和δ的结果,对所述各向异性参数ε、δ和vp0进行反演,获取精确的参数ε、δ和vp0的结果;基于所述精确的参数ε、δ和vp0的结果,对所述各向异性参数ε、δ、vp0和θ0进行反演,获取所述各向异性参数(vp0,ε,δ,θ0)的反演结果;其中,vp0为沿对称轴方向的qp波相速度;ε和δ为Thomsen参数;θ0为波前法线方向与对称轴的夹角。
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