[发明专利]一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测方法及装置

摘要

本发明公开了一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测方法及装置，方法如下对一种大面积透明基片按照检测精度和镜头范围分成n块区域，并按区域配置2n套双面视觉检测装置，按照每个定位点的位置定位安装视觉检测装置，拍摄基片图像，对基片图像进行机器视觉检测，再拼合成大面积透明基片整体图像，检测装置包括PC控制系统、上成像模组、连接器、下成像模组、透明性器件和调节器，本发明从基片表面缺陷检测对象中依次分离外形尺寸等部分检测任务，每次针对一项任务进行检测；通过本发明能快速、有效地实现基片表面缺陷的智能检测与识别。

主权项

一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测方法，其特征在于：具体方法如下：A对一种大面积透明基片按照检测精度和镜头范围分成n块区域；B按区域配置2n套双面视觉检测装置，按照每个定位点的位置定位安装视觉检测装置；C拍摄基片图像，对基片图像进行机器视觉检测，再拼合成大面积透明基片整体图像；D提取基片外缘边缘，检测基片外形尺寸及定位；E判断多块目标区域的表面缺陷数量平均值之间的标准偏差值是否小于标准偏差阈值，如果是，执行步骤F，否则判定为基片缺陷；F判断图像中表面缺陷尺寸大小是否超过标准值，如果是，则判定为基片缺陷；如果否，则执行步骤G；G提取缺陷区域数量加权值，计算区域及整体数量特征值，并将所述特征值分类计算参数值。