[发明专利]芯片测试模式的进入方法在审
| 申请号： | 201710264480.6 | 申请日： | 2017-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN106918775A | 公开（公告）日： | 2017-07-04 |
| 发明（设计）人： | 孔欣 | 申请（专利权）人： | 成都锐成芯微科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试模式的进入方法，包括以下步骤将芯片的复位端子作为时钟信号输入端，将芯片的普通输入端子作为数据信号输入端；所述普通输入端子输入组合为测试模式辨别码和测试模式类型码的输入码流；当所述测试模式辨别码匹配所述芯片中用于进入测试模式的预设值时，确定所述芯片要进入测试模式；保存所述测试模式类型码，在码流输入结束后，所述普通输入端子保持高电平；以及在所述复位端子解除复位状态后，进入所述芯片的测试模式。本发明减少了芯片端子的使用，不易产生误操作，且增加了故意破解模式的难度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 模式 进入 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片测试模式的进入方法，包括以下步骤：将芯片的复位端子作为时钟信号输入端，将芯片的普通输入端子作为数据信号输入端；所述普通输入端子输入组合为测试模式辨别码和测试模式类型码的输入码流；当所述测试模式辨别码匹配所述芯片中用于进入测试模式的预设值时，确定所述芯片要进入测试模式；保存所述测试模式类型码，在码流输入结束后，所述普通输入端子保持高电平；以及在所述复位端子解除复位状态后，进入所述芯片的测试模式。
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