[发明专利]基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法

摘要

本发明提出了一种基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法，可以实现测试数据的进一步压缩。其依次按位从测试数据包S中读取数据，根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使所得游程的长度达到最大，并将测试数据包S转换为多个游程，然后依据相邻两个游程得到一组压缩编码并加入压缩数据包；所述的压缩编码依次由3部分组成：双游程代码、公约数代码、连分数代码；本发明还公开了对应的解码程序。

主权项

1.一种基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法，包括以下步骤：a、采用自动测试模式生成工具ATPG，生成确定的完全测试集T，所述的完全测试集T由有限个固定宽度的测试向量组成，记录该测试向量的宽度；b、将所有测试向量级联，得到测试数据包，记为S；c、依次按位从测试数据包S中读取数据；调用游程计算程序，得到第一个游程R₁，所述的游程计算程序根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使得第一个游程R₁的长度达到最大；记录所得游程的类型为C₁、长度为L₁；d、继续从S中读取数据，调用游程计算程序，得到第二个游程R₂，所述的游程计算程序根据相邻确定位向无关位填充0或1，以使得第二个游程R₂的长度达到最大；记录所得游程的类型为C₂、长度为L₂；e、依据步骤c所得到的第一个游程R₁、步骤d所得到的第二个游程R₂，调用编码程序，得到一组压缩编码，并将该压缩编码加入压缩数据包；本步骤中，所述的压缩编码依次由3部分组成：第一部分为双游程代码，第二部分为公约数代码，第三部分为连分数代码，所述编码程序包括：e1、计算双游程代码，所述双游程代码为3位二进制代码，第一位为0，第二位以0或1表示第一个游程R₁的类型C₁，第三位以0或1表示第二个游程R₂的类型C₂；e2、计算公约数代码：首先计算L₁、L₂的最大公约数为gcd，然后将该十进制数gcd转换为二进制形式的公约数代码，所述公约数代码包括前缀和后缀，所述的前缀和后缀为位数相同的二进制数，其编码方法：前缀由i个1和1个0构成，其中，；后缀为gcd+4转换成对应的二进制数后去掉最高位1的剩余部分；e3、计算连分数代码：依据该最大公约数gcd，将L₁/L₂转化为最简分数，再将所得最简分数转换为一个有限简单连分数表示，所述的有限简单连分数包括由若干个正整数构成的部分商序列，记为L₁/L₂ = [a₀/a₁/a₂/.../a_n]；依次将单个十进制形式的部分商转换为二进制形式的部分商代码并级联，即得到当前第一个游程和第二个游程对应的连分数代码；所述部分商代码包括前缀和后缀，所述的前缀和后缀为位数相同的二进制数，其编码方法：前缀由i个1和1个0构成，其中，；后缀为a_n+4转换成对应的二进制数后去掉最高位1的剩余部分；f、判定测试数据包S是否读完，如否转步骤c继续编码，如是转步骤g；g、得到完整的压缩数据包，程序结束。