[发明专利]一种分析致密胶体老化机理的方法有效

专利信息
申请号: 201710284489.3 申请日: 2017-04-25
公开(公告)号: CN107144667B 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 梁英杰;陈文;肖锐 申请(专利权)人: 河海大学
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 徐莹
地址: 212050 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种分析致密胶体老化机理的方法,采用扩展对数扩散率定量化致密胶体老化过程中胶体粒子微观运动的均方位移,然后结合致密胶体老化的试验条件和试验数据,计算扩展对数扩散率参数的值,最终确定该致密胶体老化的扩展对数扩散率,从特慢扩散角度微观分析致密胶体老化的机理。本发明扩展对数扩散率包含两个参数,扩展对数扩散率的阶数和速率指数。其中扩展对数扩散率的阶数刻画了致密胶体老化过程偏离对数扩散率的程度,速率指数描述了致密胶体老化过程的特征速率。扩展对数扩散率是对数扩散率的推广,满足扩展对数扩散率的老化过程称为扩展对数特慢老化过程。该发明有广泛的工程应用前景,可用于高性能聚合物材料的生产、药物载体的开发等。
搜索关键词: 一种 分析 致密 胶体 老化 机理 方法
【主权项】:
1.一种分析致密胶体老化机理的方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)选定致密胶体作为研究对象,确定胶体粒子的个数N和观测时间间隔tw,并通过粒子追踪试验方法获取老化过程中胶体粒子的运动轨迹;(2)结合步骤(1)中的运动轨迹,计算N个胶体粒子的平均均方位移<r2(t)>;其中<ri2(t)>为第i个胶体粒子的均方位移,该均方位移通过第i个胶体粒子在不同时刻t的位置计算得到;(3)采用扩展对数扩散率描述致密胶体粒子的均方位移;<r2(t)>~(lntα)λ其中,0<α≤1为扩展对数扩散率的阶数,直接刻画致密胶体老化过程偏离对数特慢过程的程度,λ>0描述了致密胶体老化过程的特征速率,称为速率指数;(4)结合步骤(2)中的均方位移<r2(t)>,计算步骤(3)中扩展对数扩散率中参数的值;(5)验证步骤(3)中的扩展对数扩散率,并将满足扩展对数扩散率的老化过程称为扩展对数特慢老化过程。
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