[发明专利]引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统及方法在审
| 申请号： | 201710284524.1 | 申请日： | 2017-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN107085149A | 公开（公告）日： | 2017-08-22 |
| 发明（设计）人： | 高冲;李恩;余承勇;张云鹏;王帅;张俊武;何凤梅 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R27/02;G01R33/12 |
| 代理公司： | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙)51232 | 代理人： | 敖欢,葛启函 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统，包括图像采集处理子系统和材料微波参数测试子系统；进行材料微波参数精确测试的方法为首先对每个微型摄像机进行标定，求解各个坐标系与自定义全局坐标系之间的旋转矩阵和位移向量，通过多个摄像头获取样品图像数据，利用每个坐标系与全局坐标系之间的旋转矩阵和位移向量，计算出样品三维坐标以及样品材料在测试夹具中的真实位置坐标和形状变化量，并测试算法中的函数系数或求解域进行修正，进一步提高测试精度；本发明可实时准确获取样品位置和形态变化，而不会影响微波材料测试；可有效减小样品位置偏移和形状变化对测试结果造成的影响，进一步提高测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 引入 机器 视觉 技术 材料 微波 参数 精确 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统，其特征在于：包括图像采集处理子系统和材料微波参数测试子系统；所述图像采集处理子系统包括计算机(2)、多个微型摄像机(4a‑4d)，每个微型摄像机分别通过数据传输线(7)连接到计算机(2)，所述的多个微型摄像机分别固定安装在测试夹具(3)上；所述材料微波参数测试子系统包括网络分析仪(1)、计算机(2)、测试夹具(3)；网络分析仪(1)和计算机(2)通过网线(8)连接，网络分析仪(1)的port1(1a)通过微波传输线(6a)连接测试夹具(3)的第一端口(3a),网络分析仪(1)的port2(1b)通过微波传输线(6b)连接夹具(3)的第二端口(3b)。
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