[发明专利]一种检测透明物体缺陷的装置在审
| 申请号： | 201710295764.1 | 申请日： | 2017-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN106932406A | 公开（公告）日： | 2017-07-07 |
| 发明（设计）人： | 许迪 | 申请（专利权）人： | 许迪 |
| 主分类号： | G01N21/896 | 分类号： | G01N21/896 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 张海英,林波 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及检测装置技术领域，公开了一种检测透明物体缺陷的装置，包括光源和图像采集装置，光源向透明物体发射光线形成反射光斑，图像采集装置获取透明物体的图像，图像采集装置的捕获范围至少部分包括反射光斑周围被光源照亮的区域，透明物体置于具有低凹区的平台上，低凹区低于放置透明物体的平台的平面，图像采集装置经捕获范围向远离图像采集装置一侧投射的区域至少部分落在低凹区内。本发明提出的检测透明物体缺陷的装置，图像采集装置经捕获范围向远离图像采集装置一侧投射的区域至少部分落在低凹区内，避免图像采集装置所采集的图像中有其他物体对透明物体上缺陷的干扰，影响透明物体上缺陷的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 透明 物体 缺陷 装置 | ||
【主权项】：
一种检测透明物体缺陷的装置，其特征在于，包括光源和图像采集装置，所述光源向透明物体发射光线，形成反射光斑，所述图像采集装置获取所述透明物体的图像，所述图像采集装置的捕获范围至少部分包括所述反射光斑周围被所述光源照亮的区域，所述透明物体置于具有低凹区的平台上，所述低凹区低于放置所述透明物体的平台的平面，所述光源和所述图像采集装置设置在所述透明物体的一侧，所述低凹区设置在所述透明物体的另一侧，所述图像采集装置经所述捕获范围向远离所述图像采集装置一侧投射的区域至少部分落在所述低凹区内。
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