[发明专利]一种用于集成电路芯片的固晶方法在审
申请号: | 201710295986.3 | 申请日: | 2017-04-28 |
公开(公告)号: | CN108807191A | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 郑烽 | 申请(专利权)人: | 广东先捷电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 522021 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于集成电路芯片的固晶方法。相比于现有技术,该方法通过执行取料、执行点胶和执行固晶等多道步骤,在固晶运动控制、点胶、芯片拾放机构和图像识别系统的相互配合下,实现了高精度下的快速度固晶技术。且能够适应于广范围的应用领域,无论是零散的小芯片环氧封装,还是集成电路大芯片固晶均可。相比于共晶焊和低温共晶焊的芯片键合,本发明效果在于更加高速、精确、可靠地拾取和放置芯片,实现了生产效率与高质量水平的完美结合。 | ||
搜索关键词: | 固晶 集成电路芯片 共晶焊 点胶 芯片 图像识别系统 生产效率 芯片键合 运动控制 质量水平 大芯片 小芯片 环氧 取料 拾取 封装 集成电路 配合 | ||
【主权项】:
1.一种用于集成电路芯片的固晶方法,其特征在于,该方法的具体步骤如下:步骤1,执行取料,固晶夹持机构在第一步进电机的驱动下,做相对的水平匀速运动至放置有引线框架的物料工作台上方,在第二步进电机的驱动下,物料工作台垂直上升至夹持机构的自动抓料范围内,夹持机构执行自动抓料,将引线框架拾取;步骤2, 执行上一步骤后,固晶夹持机构在第一步进电机反向偏转的驱动下,沿着反方向水平匀速运动,返回位于进/出料工作台的上方原位;步骤3,执行上一步骤后,固晶夹持机构松开,引线框架落至进/出料工作台,进/出料工作台底部的传感器检测识别引线框架,并反馈驱动第三步进电机,步进电机转动驱使皮带传动,引线框架通过皮带传动到固晶工作台上;步骤4,执行上一步骤后,固晶工作台在气缸压力推动下,工作台垂直上升至上芯区域,视觉系统识别引线框架封装基底,对封装基底做出精准定位;步骤5,执行点胶,点胶拾取臂在胶盘内蘸取一定量黏合剂后,旋转90°到引线框架的封装基底上完成黏合剂的涂覆,点胶拾取臂涂覆黏合剂后返回胶盘内再次蘸取,移动至下一个封装基底进行黏合剂的涂覆,并重复该操作过程,直至完成引线框架上所有封装基底的黏合剂涂覆;步骤6,执行固晶,摆臂式键合头从承载着芯片的蓝膜框架的承片台上准确地拾取集成电路芯片,在视觉系统的精确定位下,摆臂式键合头旋转180°将芯片放置到涂覆有黏合剂的封装基底上进行固晶,固晶后摆臂式键合头返回承片台拾取芯片,移至下一个涂覆有黏合剂的封装基底进行固晶,重复该操作过程;步骤7,重复步骤5和步骤6直至完成引线框架所有封装基底的固晶后,固晶工作台垂直下降至和进/出料工作台同一水平高度,在第四步进电机的反向驱动下,固晶工作台通过皮带传动将固晶好的引线框架送至进/出料工作台,进/出料工作台在第三步进电机的反向驱动下,皮带反向传动将引线框架送至固定在角铁上的同一水平高度的周转料盒物料槽里;步骤8,执行上一步骤后,固定在角铁上的周转料盒的物料槽下移一个槽数,并重复执行步骤1至步骤7,直至将固晶好的引线框架堆放满周转料盒的物料槽后,更换周转料盒继续进行固晶,直到完成所有集成电路芯片的固晶。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造