[发明专利]实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架

摘要

本发明涉及一种实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架，至少包括支架主体、磁吸遮光板、可控底板，其中，所述支架主体包括相机支撑顶棚以及连接在所述相机支撑顶棚上的架体支撑三级伸缩支撑杆；所述支撑顶棚上表面设有相机放置面，所述架体支撑三级伸缩支撑杆的磁力面通过电磁连接在所述底板磁吸卡槽支撑杆位上，所述磁吸遮光板的两个磁力面分别通过电磁连接在支架磁吸卡槽上和底板磁吸卡槽遮光板位上；在所述可控底板上，所述磁吸遮光板围起来的区域内形成试样放置范围区，所述试样范围区内设有底板磁吸卡槽试样卡托位。

主权项

一种实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架，其特征在于，至少包括：支架主体、磁吸遮光板、可控底板，其中，所述支架主体包括相机支撑顶棚以及连接在所述相机支撑顶棚上的架体支撑三级伸缩支撑杆；所述支撑顶棚上表面设有相机放置面，所述相机放置面上设有相机镜头孔，所述相机放置面上设有相机夹具，所述相机夹具的磁吸面通过电磁连接在所述相机放置面上；所述支撑顶棚上还设有支架磁吸卡槽；所述可控底板上设有底板磁吸卡槽支撑杆位、底板磁吸卡槽遮光板位，所述架体支撑三级伸缩支撑杆的磁力面通过电磁连接在所述底板磁吸卡槽支撑杆位上，所述磁吸遮光板的两个磁力面分别通过电磁连接在支架磁吸卡槽上和底板磁吸卡槽遮光板位上；在所述可控底板上，所述磁吸遮光板围起来的区域内形成试样放置范围区，所述试样范围区内设有底板磁吸卡槽试样卡托位，试样卡托通过电磁连接在所述底板磁吸卡槽试样卡托位上。