[发明专利]循环冗余校验码的生成方法和装置

摘要

本申请公开了一种循环冗余校验码的生成方法和装置，其中方法包括：将预设的生成多项式G(X)转换成二进制码G(n)；将待生成循环冗余校验码的信息M(X)转换成二进制码M(k)；其中，n＝0,1,……,N；k＝0,1,……,K‑1；N为G(X)的阶数，K为M(k)的位数；根据所述M(k)和所述G(n)，利用预设的反馈移位寄存器组，采用逐次移位的方法，计算M(k)*XN模2除以G(n)的余数，将所述余数作为所述M(k)的循环冗余校验码；其中，所述反馈移位寄存器组按照Q(i‑1)＝G(0)*Q(i‑1)*X‑N+G(1)*Q(i‑1)*X‑(N‑1)+……+G(N‑1)*Q(i‑1)*X‑1+M(i‑1)+G(N)构建得到；所述Q(i‑1)表示第i‑1次移位相除的商，所述+表示模2加运算符号，所述*表示乘运算符号，X‑n表示逻辑右移n次的符号，i＝1,……,K。采用本发明，可以节约计算开销、有效提高CRC的生成效率。

主权项

1.一种循环冗余校验码的生成方法，其特征在于，包括：将预设的生成多项式G(X)转换成二进制码G(n)；将待生成循环冗余校验码的信息M(X)转换成二进制码M(k)；其中，n＝0,1,…..,N；k＝0,1,…..,K‑1；N为G(X)的阶数，K为M(k)的位数；根据所述M(k)和所述G(n)，利用预设的反馈移位寄存器组，采用逐次移位的方法，计算M(k)*XN模2除以G(n)的余数，将所述余数作为所述M(k)的循环冗余校验码；其中，所述反馈移位寄存器组按照Q(i‑1)＝G(0)*Q(i‑1)*X‑N+G(1)*Q(i‑1)*X‑(N‑1)+...+G(N‑1)*Q(i‑1)*X‑1+M(i‑1)+G(N)构建得到；所述Q(i‑1)表示第i‑1次移位相除的商，所述+表示模2加运算符号，所述*表示乘运算符号，X‑n表示逻辑右移n次的符号，i＝1,…..,K+1。