[发明专利]一种薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710303249.3 申请日: 2017-05-02
公开(公告)号: CN107039534A 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 韩志恒;李泠;陆丛研;徐光伟;王伟;刘明 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 任岩
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种薄膜晶体管,源电极和漏电极直接形成于栅介质层中,有源层形成于栅介质层表面并且与源电极和漏电极接触,通过这种结构,彻底消除了传统薄膜晶体管器件中的体接触电阻部分,其仅具有界面接触电阻,从而降低了器件的接触电阻,提高了器件的电流驱动能力,有利于降低电能浪费、减缓器件老化、降低RC延迟。
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:绝缘衬底、栅电极、栅介质层、源电极、漏电极以及有源层;其中,所述栅电极形成于所述绝缘衬底表面;所述栅介质层形成于所述绝缘衬底表面并且覆盖所述栅电极;所述源电极和漏电极埋于所述栅介质层中,且表面露出;所述有源层形成于所述栅介质层表面,与所述源电极和漏电极接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710303249.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top