[发明专利]一种薄膜晶体管及其制备方法在审
申请号: | 201710303249.3 | 申请日: | 2017-05-02 |
公开(公告)号: | CN107039534A | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | 韩志恒;李泠;陆丛研;徐光伟;王伟;刘明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种薄膜晶体管,源电极和漏电极直接形成于栅介质层中,有源层形成于栅介质层表面并且与源电极和漏电极接触,通过这种结构,彻底消除了传统薄膜晶体管器件中的体接触电阻部分,其仅具有界面接触电阻,从而降低了器件的接触电阻,提高了器件的电流驱动能力,有利于降低电能浪费、减缓器件老化、降低RC延迟。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:绝缘衬底、栅电极、栅介质层、源电极、漏电极以及有源层;其中,所述栅电极形成于所述绝缘衬底表面;所述栅介质层形成于所述绝缘衬底表面并且覆盖所述栅电极;所述源电极和漏电极埋于所述栅介质层中,且表面露出;所述有源层形成于所述栅介质层表面,与所述源电极和漏电极接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710303249.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基准电压源电压抑制电路及其植入集成电路和人工耳蜗
- 下一篇:增强半导体开关
- 同类专利
- 专利分类