[发明专利]利用测井曲线对构造进行精细校正的方法

摘要

本发明公开了一种利用测井曲线对构造进行精细校正的方法，涉及石油天然气勘探开发技术领域，步骤为：a、收集将进行压裂改造的页岩气水平井测井资料、井轨迹资料（斜深、垂深、方位、井斜）；b、选取某一地层分层界面作为校正构造基面；c、建立选取井深x米测井参数与距离校正构造基面真厚度H的相关性公式：d、根据求出的H，删除掉其中的异常数值，最终得到沿井轨迹向下投影的构造基面数值F，根据求出的构造基面数值F，可沿着页岩气水平井轨迹井深对五峰组顶构造进行精细校正。本发明利用测井曲线对构造进行精细校正，经过方法处理，可对水平井轨迹所钻遇区域的构造进行精细校正，具有极强的可操作性和现场实际应用性。

主权项

1.一种利用测井曲线对构造进行精细校正的方法，其特征在于步骤如下：a、收集将进行压裂改造的页岩气水平井测井资料和井轨迹资料；b、选取某一地层分层界面作为校正构造基面；c、建立选取井深x米的测井参数与距离校正构造基面真厚度H的相关性公式：H＝AX+BY+CZ+…+a其中：A、B、C、…、a为常数，X、Y、Z、…为选取测井参数；所述相关性公式具体是：H＝‑0.0755998529646553×GR+0.484034467565719×AC+0.324413040357806×CNL+22.5851335619178×DEN‑0.023402684641622×RXO‑0.0965828978484509×RT‑67.4960180934846其中：GR为自然伽玛，单位API；AC为补偿声波，单位μs/ft；CNL为补偿中子，单位p.u；DEN为补偿密度，单位g/cm3；RXO为浅电阻率，单位Ω·m；RT为深电阻率，单位Ω·m；d、根据求出的H，删除其中的异常数值，最终得到沿井轨迹向下投影的构造基面数值F：F＝f(x)＝H+TVD其中：TVD是对应井深x米的垂深数值；根据求出的构造基面数值F，对页岩气水平井储层构造进行校正。