[发明专利]晶振测试装置在审
| 申请号： | 201710313974.9 | 申请日： | 2017-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN107121608A | 公开（公告）日： | 2017-09-01 |
| 发明（设计）人： | 苏敏;郗小鹏 | 申请（专利权）人： | 航天恒星科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙)11604 | 代理人： | 乔双双 |
| 地址： | 100086 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明适用于晶振测试技术领域，提供了一种晶振测试装置。所述晶振测试装置包括PCB板，设置有被测晶振的焊盘；弹性连接件，设置在所述PCB板上，与所述被测晶振的焊盘电连接，且能够与所述被测晶振连接；底座，设置在所述PCB上，且开设有用于容纳被测晶振的容纳部；压板，设置在所述底座与所述PCB板相对的一端，用于固定放置在所述容纳部中的被测晶振。该晶振测试装置适合批量加工制作，可以一次性对多个晶振同时进行老化、筛选等试验，具有成本低、适应性强、可维修性强、可靠性高、可循环使用等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种晶振测试装置，其特征在于，包括：PCB板，设置有被测晶振的焊盘；弹性连接件，设置在所述PCB板上，与所述被测晶振的焊盘电连接，且能够与所述被测晶振连接；底座，设置在所述PCB板上，且开设有用于容纳被测晶振的容纳部；压板，设置在所述底座与所述PCB板相对的一端，用于固定放置在所述容纳部中的被测晶振。
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