[发明专利]激光阵列扫描成像系统有效

专利信息
申请号: 201710328051.0 申请日: 2017-05-11
公开(公告)号: CN107219618B 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 刘伟伟;苏强;林列;孙陆 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G02B21/24
代理公司: 天津耀达律师事务所 12223 代理人: 张耀
地址: 300071 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及扫描成像技术,提供一种激光阵列扫描成像系统,显微成像装置以及信号接收装置,还包括激光阵列产生装置,所述激光阵列产生装置包括接收准直后激光的相位板以及与所述相位板配合聚焦形成激光阵列的第一聚焦透镜,所述显微成像装置包括聚焦激光阵列至样品上的透镜组件以及反射携带样品信息的激光阵列二向色镜,所述信号接收装置包括接收所述二向色镜反射后激光阵列的第二聚焦透镜以及收集所述第二聚焦透镜透射光信号的探测器。本发明中通过利用相位板的激光阵列快速扫描成像技术,因其无损探伤、高分辨率、高成像速度、高性噪比以及三维层析探测的综合优势,在生物快速实时成像,活细胞检测等方面均有重要的应用价值和市场推广潜力。
搜索关键词: 激光 阵列 扫描 成像 系统
【主权项】:
一种激光阵列扫描成像系统,显微成像装置以及信号接收装置,其特征在于:还包括激光阵列产生装置,所述激光阵列产生装置包括接收准直后激光的相位板以及与所述相位板配合聚焦形成激光阵列的第一聚焦透镜,所述显微成像装置包括聚焦激光阵列至样品上的透镜组件以及反射携带样品信息的激光阵列二向色镜,所述信号接收装置包括接收所述二向色镜反射后激光阵列的第二聚焦透镜以及收集所述第二聚焦透镜透射光信号的探测器。
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