[发明专利]一种用于定位失效位置的半导体工艺验证数字电路及方法在审
| 申请号： | 201710332264.0 | 申请日： | 2017-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN106990351A | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 王宁;唐小玉;张坤;许涛;陈加俊;谢继龙;陈明明;贾宏志 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海德昭知识产权代理有限公司31204 | 代理人： | 郁旦蓉,李兵 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于定位失效位置的半导体工艺验证数字电路，其特征在于，包括和输入测试信号发生器相连接的缓冲器单元；和缓冲器单元的输出端连接的测试单元；和测试单元的输出端连接的选择器单元；以及片选信号发生器，用于发出高、低电平，和选择器单元连接，其中，测试单元用于和待验证的数字电路连接。电路结构简单可靠，可通过测试机台调整建立时间和保持时间。严格控制数据通路(Data Path),数据流不会过度发散。严格控制金属连线的最大扇出(Max Fan‑Out)为2。一个扇出为4的连线可以分解为三个扇出为2的连线和两个Buffer，能够有效定位失效位置。当测试电路逻辑异常时，通过Verilog仿真结果确定失效位置或缩小失效位置的查找范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 定位 失效 位置 半导体 工艺 验证 数字电路 方法 | ||
【主权项】：
一种用于定位失效位置的半导体工艺验证数字电路，其特征在于，包括：和输入测试信号发生器相连接的缓冲器单元；和所述缓冲器单元的输出端连接的测试单元；和所述测试单元的输出端连接的选择器单元；以及片选信号发生器，用于发出高、低电平，和所述选择器单元连接，其中，所述测试单元用于和所述待验证的数字电路连接。
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