[发明专利]一种基板残材检测方法、装置及系统有效
申请号: | 201710335385.0 | 申请日: | 2017-05-12 |
公开(公告)号: | CN107067421B | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | 张加勤 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/30 | 分类号: | G06T7/30 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭润湘 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及显示技术领域,公开了一种基板残材检测方法、装置及系统;其中,基板残材检测方法,包括:当切割后的基板经过所述传送通路后,采集所述传送通路的实时图像;将采集到的传送通路的实时图像与第一基准图像进行匹配对比,根据对比结果判断所述传送通路上是否存在基板残材;其中,所述第一基准图像为无基板残材的传送通路的图像。上述基板残材检测方法,运用了图像处理和图像匹配技术,可以准确有效地检测掉落在传送通路中的基板残材,从而避免后续经过传送通路的基板被划伤。 | ||
搜索关键词: | 一种 基板残材 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】:
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