[发明专利]天线测量系统以及天线测量方法有效
| 申请号： | 201710343101.2 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107390035B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 桧谷绫;河村尚志;待鸟诚范 | 申请（专利权）人： | 安立股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 李芳华 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供无需对从与RF电路成为一体的被测天线发射的无线信号的电磁波供给来自被测天线的基准信号，就能够在近场测量相位和振幅的天线测量系统以及天线测量方法。本发明的天线测量系统具备：多个探针天线(12)，在配置于被测天线(100)的近场区域的测量平面(P)内的多个测量位置接收无线信号；探针扫描构件(13)，维持多个探针天线(12)的相对位置的同时，使各探针天线(12)向多个测量位置移动；振幅相位差测量部(16)，每当各探针天线(12)移动到测量位置时，测量无线信号间的相位差，并且测量无线信号的振幅；以及相位计算部(18)，由通过振幅相位差测量部(16)测量的相位差计算各测量位置上的无线信号的相位。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 测量 系统 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种天线测量系统，其为在近场测量由被测天线(100)发射的无线信号的振幅以及相位的天线测量系统(1)，其特征在于，具备：/n多个探针天线(12)，在配置于所述被测天线的近场区域的规定测量平面内的多个测量位置的局部接收所述无线信号；/n探针扫描构件(13)，使所述多个探针天线移动到所述多个测量位置；/n振幅相位差测量部(16)，每当各所述探针天线通过所述探针扫描构件移动到所述测量位置时，测量通过所述多个探针天线接收的无线信号间的相位差，并且测量通过所述多个探针天线接收的无线信号的振幅；以及/n相位计算部(18)，由通过所述振幅相位差测量部测量的相位差，计算各所述测量位置上的所述无线信号的相位，/n所述被测天线将RF电路一体化而成，/n使所述多个探针天线维持相对位置的同时移动。/n
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