[发明专利]图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统与方法有效
| 申请号： | 201710348763.9 | 申请日： | 2017-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN107036713B | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 张淳民;权乃承;穆廷魁 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01J3/30 | 分类号： | G01J3/30;G01J3/447 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 刘强 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统与方法，该系统沿入射光线的主光轴从左到右依次设有用于准直的望远系统、第一延迟器、第二延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、第三延迟器、检偏器、成像镜及CCD探测器；入射光经前置望远系统准直后变为平行光，平行光依次通过第一延迟器、第二延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、第三延迟器、检偏器和成像镜，最终在CCD探测器上获取到两幅三通道干涉图。本发明能够解决序列测量方法时间及空间失配的问题，能够实时测量快速变化的目标，同时能够克服通道光谱技术中，复原强度光谱存在误差及光谱分辨率严重降低的缺点。 | ||
| 搜索关键词： | 强度光谱 第二延迟器 第一延迟器 高分辨率 探测系统 线偏振光 成像镜 检偏器 偏光镜 平行光 延迟器 图像 前置望远系统 光谱分辨率 快速变化 入射光线 实时测量 通道光谱 望远系统 序列测量 干涉图 入射光 三通道 主光轴 失配 准直 复原 | ||
【主权项】：
1.一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统，其特征在于，沿入射光线的主光轴从左到右依次设有用于准直的望远系统(1)、第一延迟器(2)、第二延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第三延迟器(6)、检偏器(7)、成像镜(8)及CCD探测器(9)；入射光经前置望远系统(1)准直后变为平行光，平行光依次通过第一延迟器(2)、第二延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第三延迟器(6)、检偏器(7)和成像镜(8)，最终在CCD探测器(9)上获取到两幅三通道干涉图，构建满足右手定则的xyz坐标系，主光轴为z轴，所述第一延迟器(2)的快轴方向与x轴正向的夹角为0°，第二延迟器(3)的快轴方向与x轴正向的夹角为45°；Wollasto棱镜(4)的光轴分别位于yz与xz平面，光轴均与z轴垂直，第三延迟器(6)的快轴方向与x轴正向的夹角为45°；检偏器(7)的透振方向与y轴平行，CCD探测器(9)的感光面位于成像镜(8)的后焦面处。
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