[发明专利]一种星载天线机械指向精度快速测量方法有效
申请号: | 201710355295.8 | 申请日: | 2017-05-19 |
公开(公告)号: | CN107121124B | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 钟鸣;任振平;席春树;金博;陈晓峰;周鑫;詹军海 | 申请(专利权)人: | 上海宇航系统工程研究所 |
主分类号: | G01C1/04 | 分类号: | G01C1/04 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 金家山 |
地址: | 201108 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明是关于星载天线机械指向精度的测量方法,该方法利用相机拍摄天线阵面从而快速获得反光标志点坐标,通过公共标志点转换至经纬仪测量系统坐标系下并拟合天线阵面法线,利用经纬仪准直测量卫星基准棱镜,互瞄获得经纬仪之间的角度关系,最终计算得到天线阵面法线与卫星坐标系的机械指向精度,满足大尺寸天线机械指向精度快速测量的要求。本发明的星载天线机械指向精度的测量方法,能够广泛适用于天线机械指向精度的测量,特别是大尺寸天线机械指向精度快速测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 天线 机械 指向 精度 快速 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种星载天线机械指向精度快速测量方法,其特征是,包括以下步骤:1)在天线阵面粘贴若干反光标志点、反光编码点及公共标志点;所述反光编码点作为拼接图像的标志点,在反光标志点之间均匀分布;2)展开天线,在测量区域架设长度基准尺,用相机在天线阵面前拍摄若干张不同位置和方向的像片;3)利用图像处理软件对反光标志点和公共标志点图像特征提取和中心定位,对像点匹配和拼接,通过光束平差法计算反光标志点和公共标志点在相机测量坐标系下的三维点坐标;4)架设2 台经纬仪建站并测量公共标志点,获得公共标志点在经纬仪测量坐标系下的三维点坐标;5)通过公共标志点转换,获得反光标志点在经纬仪测量坐标系下的三维点坐标,以最小二乘法拟合计算天线阵面的法线,获取法线方向与经纬仪测量坐标系的夹角;6)1 台经纬仪准直测量卫星基准棱镜,获得卫星基准棱镜与水平面的夹角;三台经纬仪互瞄,获得方位角,最终通过计算获得天线阵面的法线与卫星坐标系的机械指向精度。
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