[发明专利]延迟时间校正电路、半导体器件驱动电路以及半导体装置有效

专利信息
申请号: 201710357964.5 申请日: 2017-05-19
公开(公告)号: CN107425701B 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 外园和也;山本晃央;王东 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H03K17/18 分类号: H03K17/18;H03K17/22;H03K17/08;H03K17/16;H03K17/284;H02M1/08;H02M1/38;H02H3/247
代理公司: 11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 何立波;张天舒<国际申请>=<国际公布>
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在使用简单的结构的同时精密地校正来自半导体开关元件的输出相对于输入信号的信号宽度偏差。延迟时间校正电路(601)使输入信号(IN)延迟而生成向驱动部(500)提供的预驱动信号(VPD),驱动部生成驱动信号(VG)。暂态变化检测部(2)检测导通动作及截止动作中的一方动作的暂态变化。校正信号生成部(3)基于输入信号和由暂态变化检测部检测出的暂态变化生成校正信号(AS)。延迟输出部(4)使用校正信号而使输入信号延迟,由此生成与预驱动信号对应的输出信号。在延迟输出部中,使得对导通动作以及截止动作中的与一方动作不同的另一方动作进行指示的输出信号,对应于此前最近进行的一方动作的暂态变化的期间的长度而相对于输入信号延迟。
搜索关键词: 延迟时间 校正 电路 半导体器件 驱动 以及 半导体 装置
【主权项】:
1.一种延迟时间校正电路,其通过使来自外部的输入信号延迟,从而生成向驱动部提供的预驱动信号,该驱动部生成半导体开关元件的驱动信号,/n所述延迟时间校正电路具有:/n暂态变化检测部,其对所述半导体开关元件的导通动作以及截止动作中的一方的动作的暂态变化进行检测;/n校正信号生成部,其基于所述输入信号和由所述暂态变化检测部检测出的暂态变化而生成校正信号;以及/n延迟输出部,其使用所述校正信号而使所述输入信号延迟,由此生成与所述预驱动信号相对应的输出信号,/n在所述延迟输出部中,使得对导通动作以及截止动作中的与所述一方的动作不同的另一方的动作进行指示的所述输出信号,对应于此前最近所进行的所述一方的动作的暂态变化的期间的长度而相对于所述输入信号延迟。/n
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