[发明专利]散射粒子跟踪方法和装置有效
| 申请号： | 201710366130.0 | 申请日： | 2017-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN108959670B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 朱国平;邹伟;邓艳丽;明申金;李君利;苗齐田 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种散射粒子跟踪方法和装置。该散射粒子跟踪方法包括：建立系统模型，所述系统模型包括物理体和目标区域；将物理体分为多个子物理体，并将目标区域分为多个子目标区域；针对每一粒子，记录所述粒子的输运径迹，直到所述粒子的输运径迹结束为止，其中如果所述粒子在一个子物理体上发生散射，则在所述粒子的输运径迹中增加所述子物理体的标记；且如果所述粒子落入多个子目标区域中的一个子目标区域，则在所述粒子的输运径迹中增加所述子目标区域的标记；以及将针对每一粒子的输运径迹存储在粒子输运径迹数据库中。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 粒子 跟踪 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种散射粒子跟踪方法，包括：建立系统模型，所述系统模型包括物理体和目标区域；将物理体分为多个子物理体，并将目标区域分为多个子目标区域；针对每一粒子，记录所述粒子的输运径迹，直到所述粒子的输运径迹结束为止，其中如果所述粒子在一个子物理体上发生散射，则在所述粒子的输运径迹中增加所述子物理体的标记；且如果所述粒子落入多个子目标区域中的一个子目标区域，则在所述粒子的输运径迹中增加所述子目标区域的标记；以及将针对每一粒子的输运径迹存储在粒子输运径迹数据库中。
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