[发明专利]模块并入前进行天线效应检查的方法在审

专利信息
申请号: 201710369460.5 申请日: 2017-05-23
公开(公告)号: CN107122567A 公开(公告)日: 2017-09-01
发明(设计)人: 曹云 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 屈蘅
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种模块并入前进行天线效应检查的方法,能够至少将所述引脚以及引脚所连接的金属层和栅极层抽取出来,生成一个能够被客户的布局布线工具读取的、含有天线效应信息的格式文件,提供给客户,客户即使不用PR工具进行自动布局布线,也能进行模块并入前的天线效应检查,既避免了IP模块版图文件直接发给客户而造成的泄密,也方便了客户在代工厂进行模块并入之前完成天线效应检查,提前发现代工厂模块并入合成完整数据后的天线效应问题。
搜索关键词: 模块 并入 进行 天线 效应 检查 方法
【主权项】:
一种模块并入前进行天线效应检查的方法,其特征在于,包括以下步骤:至少识别出IP模块版图中用于天线效应检查的引脚以及所述引脚所连接的金属层和栅极层;至少将所述引脚以及引脚所连接的金属层和栅极层抽取出来,生成一个能够被客户的布局布线工具读取的格式文件,提供给所述客户;所述客户通过所述布局布线工具读取所述格式文件,以进行天线效应检查。
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