[发明专利]X射线荧光分析法测定煤的灰分的方法

摘要

本发明是关于一种X射线荧光分析法测定煤的灰分的方法，其包括：1)将煤样品粉磨，制成粉末压片，用XRF分析仪测定粉末压片样品中各氧化物对应元素的X射线荧光强度I_i；2)令D＝4.0；3)计算各氧化物的质量百分数C_i，各氧化物质量百分数的总和SUM和各氧化物的归一化质量百分数C_0i；4)求得的二氧化硅质量百分数，计算D值；5)利用步骤4)求得的D值，重复步骤3)和步骤4)；6)迭代至SUM＝1.00000±0.00001时，用步骤4求得的D值计算煤的灰分A。本发明通过测量煤中可燃烧的碳成分与灰分之比，进而计算煤的灰分，测定结果不受煤灰分化学成分变化的影响。

主权项

1.一种X射线荧光分析法测定煤的灰分的方法，其特征在于，其包括：1)将煤样品粉磨，制成粉末压片，用X射线荧光分析法测定煤样品中各氧化物对应元素i的X射线荧光强度I_i；2)令D＝4.0，其中D值符合公式(1)：D＝(1‑A)/A          (1)其中A为煤的灰分；3)按照公式(2)计算各氧化物的质量百分数C_i，按照公式(3)计算各氧化物质量百分数的总和SUM，按照公式(4)计算各氧化物的归一化质量百分数C_0i：C_i＝K_iI_i(1+Dα_i)     (2)SUM＝∑C_i            (3)C_0i＝C_i/SUM          (4)其中，K_i和α_i满足公式(5)和(6)：K_i＝μ_Ai/Q_i           (5)Q_i为比例常数，μ_Ai为煤样品中灰分对元素i的荧光X射线的质量吸收系数，μ_0i为煤样品的可燃性碳及有机物对元素i的荧光X射线的质量吸收系数；4)根据公式(4)求得的二氧化硅的归一化质量百分数，将所述的二氧化硅的归一化质量百分数作为二氧化硅的质量百分数，用式(7)计算D值：5)利用步骤4)求得的D值，重复步骤3)和步骤4)；6)迭代至SUM＝1.00000±0.00001时，对应的D值代入式(1)可计算煤的灰分A。