[发明专利]一种立体显示装置和用于晶片检测的3D图像再现系统在审

专利信息
申请号: 201710381088.X 申请日: 2017-05-25
公开(公告)号: CN106990546A 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 王广军 申请(专利权)人: 河北博威集成电路有限公司
主分类号: G02B27/22 分类号: G02B27/22;G01N21/95
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所13120 代理人: 苏英杰
地址: 050200 河北省*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种立体显示装置和用于晶片检测的3D图像再现系统,涉及晶体元器件制造检测技术领域。包括立体拍摄结构、立体显示结构和控制模块,立体拍摄结构包括图像变换模块和图像拍摄模块,图像拍摄模块包括摄影镜组单元和感光芯片单元,图像变换模块、摄影镜组单元和感光芯片单元按照从左到右的顺序依次设置,显示单元放置于投影镜组的上侧,视窗镜放置于投影镜组的下侧,且视窗镜与水平方向呈一定角度设置。采用上述方案后,能够实现对微小元件进行3D成像,同时还能以3D显示的方式把立体图像展示出来,大大简化检查工作提升检测能力,为生产高品质小型化晶体元器件提供了有力的保障。
搜索关键词: 一种 立体 显示装置 用于 晶片 检测 图像 再现 系统
【主权项】:
一种立体显示装置,其特征在于,包括:显示单元(106)、投影镜组(107)、视窗镜(108)、第二驱动模块(105)和控制模块(104),显示单元(106)放置于投影镜组(107)的上侧,控制模块(104)连接着第二驱动模块(105),第二驱动模块(105)连接着显示单元(106),用于调整显示单元(106)与投影镜组(107)的等效距离,视窗镜(108)放置于投影镜组(107)的下侧,且视窗镜(108)与水平方向呈一定角度设置。
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