[发明专利]用于可测试芯片的测试方法、装置及可测试芯片内置电路有效
| 申请号： | 201710389552.X | 申请日： | 2017-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN108957301B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 黄超 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3183;G01R31/3185;G01R31/3187 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 姜春咸;冯建基 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本文公布了一种测试方法、测试装置及可测试芯片内置电路。测试方法包括：在芯片的异步数据路径上插入时序隔离单元，使得相应数据路径的接收端在扫描测试模式下为固定值；配置低速测试时钟，读入插入时序隔离单元后所述芯片的布局布线PR网表，在自动测试向量发生器ATPG环境中产生测试向量；其中，在所述扫描测试模式下所述时序隔离单元输出信号恒为所述固定值。本申请有效平衡了低速stuck‑at的测试向量数目与PR对低速测试模式TIMING的收敛时间，不仅可减少测试成本，而且可加快测试进展，为芯片实现后续环节节省大量时间。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 芯片 方法 装置 内置 电路 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，其特征在于，包括：在芯片的异步数据路径上插入时序隔离单元，使得相应数据路径的接收端在扫描测试模式下为固定值；配置低速测试时钟，读入插入时序隔离单元后所述芯片的布局布线PR网表，在自动测试向量发生器ATPG环境中产生测试向量；其中，在所述扫描测试模式下所述时序隔离单元输出信号恒为所述固定值。
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