[发明专利]华盖散颗粒指纹图谱的测定方法有效

专利信息
申请号: 201710391962.8 申请日: 2017-05-27
公开(公告)号: CN107014930B 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 秦少容;黄静;彭涛;董自亮;卿玉玲;官柳;冉亚东;原欢欢;禹奇男;刘世琪;彭世陆 申请(专利权)人: 太极集团重庆桐君阁药厂有限公司
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 400000*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种华盖散颗粒指纹图谱的测定方法,具体是先取华盖散颗粒,研细,加甲醇溶液,超声溶解,冷却,再加甲醇溶液补足失重,摇匀,过滤,收集滤液得华盖散颗粒样品;然后在以十八烷基硅烷键合硅胶为填料的色谱柱,柱温为27℃,流速为0.8~1.2ml/min,检测波长为278nm,流动相为乙腈和甲酸质量分数为0.01%的甲酸水条件下洗脱,利用该方法建立了华盖散颗粒指纹图谱,为华盖散颗粒的质量控制和真伪鉴别提供了一种新的方法,并且该图谱能够全面的反应中药的物质信息,增强了指纹峰的可视化比较。
搜索关键词: 华盖 颗粒 指纹 图谱 测定 方法
【主权项】:
华盖散颗粒指纹图谱的测定方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)制备华盖散颗粒样品制备:取华盖散颗粒,研细,加甲醇溶液,超声溶解,冷却,再加甲醇溶液补足失重,摇匀,过滤,收集滤液得华盖散颗粒样品;(2)色谱检测:将步骤(1)制得华盖散颗粒样品,以十八烷基硅烷键合硅胶为填料的色谱柱,柱温为27℃,流速为0.8~1.2ml/min,检测波长为278nm,流动相为乙腈和甲酸质量分数为0.01%的甲酸水条件下洗脱。
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