[发明专利]一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法有效
| 申请号： | 201710398214.2 | 申请日： | 2017-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN107271033B | 公开（公告）日： | 2018-08-21 |
| 发明（设计）人： | 李秀荣;肖刚;左雄;冯少辉;李骢;王玲玉;程宁 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01N21/47 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人： | 司立彬 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法。本方法为：1)将选取的内壁为高反射Tyvek材料的圆柱形探测器充满纯净空气，并设置一个光电倍增管；2)利用选取的光源在该探测器里照射，用光电倍增管采集光信号；3)改变该探测器内壁的反射面积，重复步骤2)；然后根据采集的光信号拟合得到不同反射面积时光子在该探测器的有效衰减长度λ’；4)根据步骤3)得到的数据，利用1/λ’＝‑ln(f)/L‑ln(r)/L拟合λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点，同时测量出空气中Tyvek的反射率和平均反射步长。本方法操作简单且误差小精度高，原理新颖，具有很强的应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同时 测量 探测器 反射 步长 tyvek 反射率 方法 | ||
【主权项】：
1.一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法，其步骤为：1)将选取的内壁为高反射Tyvek材料的探测器里充满空气，并设置一个光电倍增管；其中，该探测器为圆柱形探测器；2)利用选取的光源在该探测器里照射，用所述光电倍增管采集光信号；3)改变该探测器内壁的反射面积，重复步骤2)；然后根据采集的光信号拟合不同反射面积时光子在该探测器的有效衰减长度λ’；4)利用公式1/λ’＝‑ln(f)/L‑ln(r)/L拟合有效衰减长度λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点，通过拟合测量出Tyvek的反射率和光在该探测器里的平均反射步长L；其中，f为该探测器内壁材料的反射率。
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