[发明专利]一种基于单幅光栅投影的三维测量方法和系统有效

专利信息
申请号: 201710402196.0 申请日: 2017-06-01
公开(公告)号: CN107356212B 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 田劲东;吴建梅;李东;田勇 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 44205 广州嘉权专利商标事务所有限公司 代理人: 唐致明
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于单幅光栅投影的三维测量方法和系统,方法包括:物理光栅离焦投影到待测试物体以形成正弦条纹图,采集待测试物体的变形条纹图;利用S变换法处理变形条纹图以获得主值相位φ(x,y);基于消除包裹法进行解包裹,获得绝对相位
搜索关键词: 一种 基于 单幅 光栅 投影 三维 测量方法 系统
【主权项】:
1.一种基于单幅光栅投影的三维测量方法,其特征在于,包括:/n物理光栅离焦投影到待测试物体以形成正弦条纹图,采集待测试物体的变形条纹图;/n利用S变换法处理变形条纹图以获得主值相位φ(x,y);/n基于消除包裹法进行解包裹,获得绝对相位
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